Расширенный поиск

Государственный научно-исследовательский и проектный ин-т редкометаллической промышленности "Гиредмет"
   Научные труды. - М. : Металлургия, 1966.
   Т. 33 : Физико-химические методы исследования полупроводниковых материалов. - 1971. - 199 с. : ил. - Библиогр. в конце статей.

Государственный научно-исследовательский и проектный ин-т редкометаллической промышленности "Гиредмет"
   Научные труды. - М. : Металлургия, 1966.
   Вып. 46 : Физико-химические методы исследования полупроводниковых материалов. - 1973. - 142 с. : ил. - Библиогр. в конце статей.

Григулис Ю. К.
   Электромагнитный метод анализа слоистых полупроводниковых и металлических структур / Григулис Ю. К. ; Академия наук Латвийской ССР, Физико-энергетический ин-т. - Рига : Зинатне, 1970. - 271 с., [2] л. ил. : ил. - Библиогр.: с. 267-270.

   Диэлектрики в наноэлектронике : [монография] / Гриценко В. А., Тысченко И. Е., Попов В. П., Перевалов Т. В. ; Российская академия наук, Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова ; отв. ред. Асеев А. Л. - Новосибирск : Изд-во СО РАН, 2010. - 257 с. : ил. - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-7692-1081-5.

Зайнабидинов С. З., Курбанов А. О.
   Кластеры атомов примеси никеля и их влияние на рекомбинационные свойства кремния / Зайнабидинов С. З., Курбанов А. О. - DOI 10.18698/1812-3368-2019-2-81-93 // Вестник МГТУ им. Н. Э. Баумана. Сер. Естественные науки. - 2019. - № 2. - С. 81-93.

Зайнабидинов С. З., Мадаминов Х. М.
   Механизм токопрохождения в полупроводниковых p–Si–n–(Si2) 1–x(CdS) x структурах / Зайнабидинов С. З., Мадаминов Х. М. - DOI 10.18698/1812-3368-2020-4-58-72 // Вестник МГТУ им. Н. Э. Баумана. Сер. Естественные науки. - 2020. - № 4. - С. 58-72.

   Закономерности деформационного упрочнения кристаллических материалов, содержащих композиционные ансамбли дефектов / Вершинин Е. В., Глебов С. А., Власов В. Н., Рыбкин С. В. // Наукоемкие технологии. - 2014. - Т. 15, № 8. - С. 19-26.

   Закономерности равновесия и устойчивости узловых дислокационных конфигураций / Бобров Р. Б., Востров Н. Н., Проскурнин А. Н., Сидоров В. С., Логинов Б. М. // Наукоемкие технологии. - 2014. - Т. 15, № 8. - С. 3-12.

   Изучение возможностей использования электроннозондовых методов для субмикронной диагностики материалов и структур электронной техники : отчёт о НИР (заключительный) / МГТУ им. Н. Э. Баумана, Калужский филиал ; рук. темы Степович М. А. - М., 2003. - 140 л. - Библиогр.: л. 130-140. - Шифр Т00-2.2-852. - ГР 01200110405. - Инв. № 02.20.0303192.

   Исследование и разраб. катодолюминесцентного метода диагностики локальных электрофизич. параметров полупроводников : отчет о НИР (заключ.) / МГТУ. Фил. в Калуге ; рук. темы Степович М. А. - М., 2000. - 65 л.