Подробное описание документа
А. И. Блееман, В. В. Даньшина, Д. А. Полонянкин
Теоретические основы методов исследования наноматериалов : учебное пособие / А. И. Блееман, В. В. Даньшина, Д. А. Полонянкин ; Омский государственный технический университет. - Омск : Омский государственный технический университет (ОмГТУ), 2017. -
Представлены теоретические основы методов исследования наноматериалов – растровой электронной микроскопии и рентгеновской дифрактометрии. Изложены рекомендации по выполнению заданий в ходе учебной, производственной и преддипломной практики.Учебное пособие адресовано обучающимся по направлениям 28.03.02, 28.04.02 «Наноинженерия».
