Подробное описание документа
Патент на изобретение № 2602416 Российская Федерация.
Способ определения стойкости полупроводниковых приборов СВЧ к воздействию ионизирующих излучений : № 2015133038 : заявл. 07.08.2015 : опубл. 21.10.2016 / Усыченко В. Г., Вьюгинов В. Н., Гудков А. Г. [и др.] ; патентообладатель МГТУ им. Н.Э. Баумана.
Использование: для отбраковки полупроводниковых приборов. Сущность изобретения заключается в подаче на каждый прибор из группы однотипных приборов неизменные напряжения питания, приложении последовательности циклов ионизирующего излучения, доза которого накапливается в каждом цикле с тем, чтобы получить вызванное ею приращение интегрального низкочастотного шума прибора над шумами его исходного состояния, анализе приращений интегрального шума с ростом накопленной дозы, определении приращения интегрального шума, достигнутого к моменту окончания М-го цикла, с которого начинают уверенно фиксироваться изменения рабочего тока прибора, выбраковке приборов тех типов, у которых среднее значение приращения интегрального шума на единицу дозы, достигнутое к моменту окончания М-го цикла, оказывается больше, чем у приборов других типов. Технический результат: обеспечение возможности повышения достоверности определения стойкости полупроводниковых приборов к проникающим ионизирующим излучениям. 2 ил.TIFF00000008.tif118138
