Подробное описание документа
Изучение топографии материалов на целлюлозной основе методом атомно-силовой микроскопии / Кирсанкин А. А., Михалева М. Г., Политенкова Г. Г., Никольский С. Н., Стовбун С. В. - DOI 10.18698/2542-1468-2018-1-88-93 // Лесной вестник. - 2018. - Т. 22, № 1. -
Скачать документ
Выполнен анализ поверхности мелованных видов бумаги и картона с применением атомно-силовой микроскопии (АСМ). Анализ поверхности целлюлозно-бумажных материалов с использованием АСМ является достаточно универсальным и обеспечивает объективную характеристику шероховатости различных видов целлюлозно-бумажной продукции. В отличие от традиционных «воздушных» методов контроля качества целлюлозно-бумажной продукции, которые стандартизированы как в системе ISO, так и в рамках национальных и отраслевых систем стандартизации (ГОСТ, DIN, SCAN, TAPPI), этот метод дает прямое изображение рельефа поверхности. Обработка полученных изображений поверхности материала с применением программного обеспечения позволяет рассчитать шероховатость по предпочтительному параметру — среднеарифметическому отклонению профиля (Ra) в полном соответствии с требованиями ГОСТ 2789–73 и международной рекомендации по стандартизации ИСО Р 468. Результаты не противоречат данным, полученным стандартными (косвенными) методами. Установлено, что в ряде случаев при одном и том же косвенном показателе шероховатости, указанном производителем, расчет параметра Ra по данным АСМ дает более объективные и точные результаты. Метод прямого анализа поверхности бумаги и картона для полиграфии (материалы с мелованным слоем, суперкаландрированные материалы и пр.), использованный в работе, может в перспективе рассматриваться как метод объективного контроля процессов производства основы для мелования, подготовки пигментов для меловальных составов и изготовления конечной продукции.
Статья опубликована в следующих изданиях
Т. 22, № 1. - 2018.