Подробное описание документа
Рентгеноспектральный метод изучения структуры аморфных тел: EXAFS-спектроскопия : монография / Кочубей Д. И., Бабанов Ю. А., Замараев К. И. [и др.] ; АН СССР, СО, Ин-т катализа ; отв. ред. Жидомиров Г. М. - Новосибирск : Наука, СО, 1988. - 302 с. : рис., табл. - Библиогр.
В монографии подробно описан новый мощный структурный метод, позволяющий в объекте любой сложности и любого агрегатного состояния измерять кривую радиального распределения атомов для локального (до 5 А) координационного окружения заданного химического элемента по дальней тонкой структуре его рентгеновских спектров поглощения (EXAFS-спектроскопия). Рассмотрены теоретические и методические вопросы EXAFS-спектроскопии. Результаты проиллюстрированы примерами из областей химии растворов, катализа, материаловедения.
Книга предназначена для специалистов, изучающих локальную структуру химических объектов.
539.26 Рентгеноструктурный анализ. Исследование сверхтонкой структуры вещества при помощи дифракции рентгеновских лучей2 экз.
- Преподавательский абонемент ауд.313, ГУК, ауд. 313
- Читальный зал ауд.313, ГУК, ауд. 313
