Расширенный поиск

Шуваева А. Н., Тимофеев И. С.
   Фокусирующее устройство типа микропирамид в визирах фотокамер / Шуваева А. Н., Тимофеев И. С. // Расчёты оптических систем : сборник статей / ред. Бегунов Б. Н. ; Министерство высшего и среднего специального образования СССР, МВТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 1968. - (Труды / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; № 129). - С. 122-129.

Щегляев В. С.
   Физика. Оптика : лекции 2-го общего курса 1888-1889 гг. / Щегляев В. С. - М. : Издатель Петров Н., [1889]. - 143 с. : ил. - Литография; издатель Н. Петров.

   Экспериментальные исследования поляризации лазерного излучения во вращающемся оптическом стекле / Гладышев В. О., Портнов Д. И., Кауц В. Л., Шарандин Е. А. // Оптика и спектроскопия. - 2013. - Т. 115, № 3. - С. 398-405.

   Экспериментальные исследования люминесцентного излучения во вращающемся рубине / Гладышев В. О., Горелик В. С., Портнов Д. И., Филатов В. В. // Современный физический практикум : сборник трудов XIV Международной учебно-методической конференции, Москва, 27-29 сент. 2016 г. / ред. Калачёв Н. В., Шапочкин М. Б. ; Российская академия наук, Физический ин-т им. П. Н. Лебедева РАН, Национальный исследовательский ун-т, МГТУ им. Н. Э. Баумана, Московское физическое общество. - М., 2016. - С. 208-209.

   Экспериментальные исследования спектров лазерно-индуцированной флуоресценции антропогенных объектов на земной поверхности / Федотов Ю. В., Кравцов Д. А., Белов М. Л., Городничев В. А. // Вестник МГТУ им. Н. Э. Баумана. Сер. Приборостроение. - 2018. - № 5. - С. 36-44.

   Экспериментальные исследования динамики спектров лазерно-индуцированной флуоресценции нефтяных загрязнений / Федотов Ю. В., Белов М. Л., Кравцов Д. А., Городничев В. А. - DOI 10.18698/1812-3368-2019-1-66-76 // Вестник МГТУ им. Н. Э. Баумана. Сер. Естественные науки. - 2019. - № 1. - С. 66-76.

   Электронная микроскопия поверхности дентальных имплантатов и наноразмерных металлсодержащих частиц, полученных в составе супернатантов / Жигалина О. М., Хмеленин Д. Н., Лабис В. В., Базикян Э. А., Сизова В. С., Хайдуков С. В., Асадчиков В. Е., Бузмаков А. В., Кривоносов Ю. С., Золотов Д. А., Козлов И. Г. // Кристаллография. - 2019. - Т. 64, № 5. - С. 781-789.

   Электрофизические и оптические процессы в плазменных и твердотельных средах и наноструктурах : монография / Пикуз С. А., Шелковенко Т. А., Савватимский А. И. [и др.] ; ред. Месяц Г. А. - М. : РУСАЙНС, 2019. - 369 с. : ил. - Библиогр.: с. 366-369. - ISBN 978-5-4365-3174-8.

   Электрофизические и оптические процессы в плазменных и твёрдотельных средах и наноструктурах : монография / Пикуз С. А., Шелковенко Т. А., Савватимский А. И. [и др.] ; ред. Месяц Г. А. - М. : Ru-science, 2023. - 369 с. : ил. - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-466-02070-0.

   Эллипсометрия - прецизионный метод контроля тонкопленочных структур с субнанометровым разрешением / Швец В. А., Спесивцев Е. В., Рыхлицкий С. В., Михайлов Н. Н. // Российские нанотехнологии. - 2009. - Т. 4, т. 3-4. - С. 106-118.