Расширенный поиск
777 записей
Автореферат диссертации
Чернуцкий А. О.
Оптико-электронная система измерения температуры на основе распределённых волоконно-оптических датчиков : 2. 2. 6-Оптические и оптико-электронные приборы и комплексы : автореф. дис... ктн / Чернуцкий А. О. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 2022. - 16 с. : ил.
Оптико-электронная система измерения температуры на основе распределённых волоконно-оптических датчиков : 2. 2. 6-Оптические и оптико-электронные приборы и комплексы : автореф. дис... ктн / Чернуцкий А. О. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 2022. - 16 с. : ил.
Аналитическое описание
ЧжэЮй Янь, Шишова М. В.
Исследование искажений изображения, полученного в проекционной системе с голограммным зеркалом / ЧжэЮй Янь, Шишова М. В. // ХОЛОЭКСПО 2024: : тезисы докладов 21-ой Международной конференции по голографии и прикладным оптическим технологиям, Казань, 9-13 сентября 2024 года / Общества ограниченной ответственности "Холоэкспо наука и практика". - М., 2024. -С. 88-92 .
Исследование искажений изображения, полученного в проекционной системе с голограммным зеркалом / ЧжэЮй Янь, Шишова М. В. // ХОЛОЭКСПО 2024: : тезисы докладов 21-ой Международной конференции по голографии и прикладным оптическим технологиям, Казань, 9-13 сентября 2024 года / Общества ограниченной ответственности "Холоэкспо наука и практика". - М., 2024. -
Чуриловский В. Н.
Теория оптических приборов: учеб. пособие : [учебное пособие] / Чуриловский В. Н. - М. ; Л. : Машиностроение, 1966. - 563 с. : ил. - Библиогр.:с. 560 .
Теория оптических приборов: учеб. пособие : [учебное пособие] / Чуриловский В. Н. - М. ; Л. : Машиностроение, 1966. - 563 с. : ил. - Библиогр.:
Аналитическое описание
Чучаев В. В.
Методика расчета зонных масок / Чучаев В. В. // Технология производства оптико-электронных приборов : сборник статей / ред. Семибратов М. Н. ; МВТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 1972. - (Труды / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; № 155). -С. 112-117 .
Методика расчета зонных масок / Чучаев В. В. // Технология производства оптико-электронных приборов : сборник статей / ред. Семибратов М. Н. ; МВТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 1972. - (Труды / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; № 155). -
Аналитическое описание
Чучаев В. В.
Методика расчета параметров устройств для достижения заданного распределения толщины слоев покрытий / Чучаев В. В. // Технология производства оптико-электронных приборов : сборник статей / ред. Семибратов М. Н. ; МВТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 1972. - (Труды / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; № 155). -С. 69-72 .
Методика расчета параметров устройств для достижения заданного распределения толщины слоев покрытий / Чучаев В. В. // Технология производства оптико-электронных приборов : сборник статей / ред. Семибратов М. Н. ; МВТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 1972. - (Труды / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; № 155). -
Автореферат диссертации
Шавва М. А.
Повышение качества оптических поверхностей элементов приборов алмазным шлифованием на сверхточных станках : автореф. дис... ктн : 05. 02. 07 / Шавва М. А. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 2017. - 16 с.
Повышение качества оптических поверхностей элементов приборов алмазным шлифованием на сверхточных станках : автореф. дис... ктн : 05. 02. 07 / Шавва М. А. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 2017. - 16 с.
Диссертация
Шавва М. А.
Повышение качества оптических поверхностей элементов приборов алмазным шлифованием на сверхточных станках : дис... ктн : 05. 02. 07 / Шавва М. А. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 2017. - 184 л. : ил. - Библиогр.:л. 162-170 .
Повышение качества оптических поверхностей элементов приборов алмазным шлифованием на сверхточных станках : дис... ктн : 05. 02. 07 / Шавва М. А. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 2017. - 184 л. : ил. - Библиогр.:
Аналитическое описание
Шавырин И. Б.
Влияние изменения углового размера источника излучения на выходную характеристику измерительного преобразователя с призмой полного внутреннего отражения / Шавырин И. Б. // Оптоэлектроника : сборник статей / ред. Пахомов И. И. ; МВТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 1985. - (Труды / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; № 431). -С. 84-89 .
Влияние изменения углового размера источника излучения на выходную характеристику измерительного преобразователя с призмой полного внутреннего отражения / Шавырин И. Б. // Оптоэлектроника : сборник статей / ред. Пахомов И. И. ; МВТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 1985. - (Труды / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; № 431). -
Аналитическое описание
Шайдуров В. О., Гоменюк А. С., Жаров В. П.
Пороговая чувствительность электрометрической схемы регистрации сигнала емкостного датчика, используемого в оптико-акустическом детекторе / Шайдуров В. О., Гоменюк А. С., Жаров В. П. // Оптико-электронные приборы : сборник статей / ред. Лазарев Л. П. ; МВТУ им. Н. Э. Баумана. - 1976. - Вып. 9. -С. 52-58 .
Пороговая чувствительность электрометрической схемы регистрации сигнала емкостного датчика, используемого в оптико-акустическом детекторе / Шайдуров В. О., Гоменюк А. С., Жаров В. П. // Оптико-электронные приборы : сборник статей / ред. Лазарев Л. П. ; МВТУ им. Н. Э. Баумана. - 1976. - Вып. 9. -