Расширенный поиск

Лифиц И. М.
   Стандартизация, метрология и сертификация : учебник для вузов / Лифиц И. М. - 6-е изд., перераб. и доп. - М. : Юрайт-Издат, 2006. - 350 с. - (Основы наук). - Библиогр.: с. 348-350. - ISBN 5-94879-481-4.

Лифиц И. М.
   Стандартизация, метрология и сертификация : учебник для вузов / Лифиц И. М. - 7-е изд,, перераб. и доп. - М. : Юрайт, 2007. - 399 с. : ил. - (Основы наук). - Библиогр.: с. 396-399. - ISBN 978-5-94879-728-1.

Лифиц И. М.
   Стандартизация, метрология и сертификация : учебник для вузов / Лифиц И. М. - 8-е изд., перераб. и доп. - М. : Юрайт, 2009. - 412 с. - (Основы наук). - Библиогр.: с. 409-412. - ISBN 978-5-9788-0045-6.

Лихачёв В. Н., Гинзгеймер С. А.
   Обработка ошибок ограничений для баз данных PostgreSQL / Лихачёв В. Н., Гинзгеймер С. А. // Программная инженерия. - 2012. - № 7. - С. 34-41.

Лихачева Л. И.
   Информационные технологии в области трехмерной графики и анимации, разработанные в Научно-исследовательском институте "Высоких технологий" / Лихачева Л. И. // Вестник компьютерных и информационных технологий. - 2007. - № 9. - С. 25-28.

Лихоеденко А. К., Хохлов В. К.
   Алгоритм работы параметрической системы сопровождения с широкополосными сигналами и модифицированным дискриминатором / Лихоеденко А. К., Хохлов В. К. // Технологии разработки и отладки сложных технических систем: : сборник трудов 7 Всероссийской научно-технической конференции, Москва, 1-2 апреля 2020 г. / МГТУ им. Н. Э. Баумана (Национальный исследовательский университет), Центр инженерных технологий и моделирования "Экспонента". - М., 2021. - С. 291-296.

Лихоеденко К. П., Павлов Г. П.
   Подготовка магистерской диссертации (Направление 220200 "Автоматизация и управление") : метод. указания / Лихоеденко К. П., Павлов Г. П. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2007. - 12 с. - Библиогр. в конце брош.

Лихтициндер Б. Я., Иванова Л. Б.
   Контроль качества знаний на основе вероятностных критериев оценки / Лихтициндер Б. Я., Иванова Л. Б. // Информационные технологии. - 2006. - № 2. - С. 73-78.

Лич Р.
   Инженерные основы измерений нанометровой точности / Лич Р. ; пер. с англ. Заблоцкий А. В. - Долгопрудный : Интеллект, 2012. - 399 с. : ил. - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-91559-119-5.

Лишнер P.
   Delphi : справочник / Лишнер P. ; пер. с англ. Л. Фрейдина. - СПб. : Символ-Плюс, 2001. - 640 с. : ил. - ISBN 5-93286-019-7.