Расширенный поиск

Бронштейн Ю. Л.
   Крупногабаритные зеркальные системы (контроль геометрии, юстировка) / Бронштейн Ю. Л. - М. : ДПК Пресс, 2013. - 479 с. : ил. - Библиогр.: с. 473-479. - ISBN 978-5-91976-038-2.

Бронштейн Ю. Л.
   Крупногабаритные зеркальные системы (контроль геометрии, юстировка) / Бронштейн Ю. Л. - 2-е изд., испр. и доп. - М. : Изд-во ДПК Пресс, 2015. - 597 с. : ил. - Библиогр.: с. 588-598.

Бузина Н. Н.
   Частотно-контрастная характеристика фотообъективов для различных лучей спектра / Бузина Н. Н. // Расчёты оптических систем и фотокиноаппаратуры : сборник статей / ред. Бегунов Б. Н. ; МВТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 1969. - (Труды / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; № 135). - С. 75-79.

Бурков В. Д., Иванов Г. А.
   Научные основы создания устройств и систем волоконно-оптической техники : монография / Бурков В. Д., Иванов Г. А. ; Моск. гос. ун-т леса. - М. : Изд-во Моск. гос. ун-та леса, 2008. - 332 с. : ил. - Библиогр.: с. 321-326.

Быков Б. З.
   Влияние параметров наладки и настройки оптических станков на распределение средней относительной скорости / Быков Б. З. // Оптико-электронные приборы : сборник статей / ред. Лазарев Л. П. ; МВТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 1964. - (Труды / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; № 114). - С. 181-191.

Быков Б. З., Ефремов А. А., Рукавишников А. А.
   Автоматизированная обработка и контроль оптических поверхностей / Быков Б. З., Ефремов А. А., Рукавишников А. А. // Расчёт и проектирование оптико-электронных приборов : сборник статей / МВТУ им. Н. Э. Баумана. - 1979. - Вып. 12 / ред. Лазарев Л. П. - С. 50-59.

Быков Б. З., Ефремов А. А., Рукавишников А. А.
   Автоматизированное управление доводкой крупногабаритных оптических деталей / Быков Б. З., Ефремов А. А., Рукавишников А. А. // Оптико-электронные приборы : сборник статей / ред. Лазарев Л. П. ; МВТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 1981. - (Труды / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; № 368). - С. 62-68.

Быков Б. З.
   Зависимость между коэффициентами покрытия сферической и плоской поверхностей / Быков Б. З. // Технология производства оптико-электронных приборов : сборник статей / ред. Семибратов М. Н. ; МВТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 1972. - (Труды / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; № 155). - С. 25-34.

Быков Б. З., Перов В. А., Сальников Ю. В.
   Контроль параметров оптических деталей / Быков Б. З., Перов В. А., Сальников Ю. В. // Оптико-электронные приборы : сборник статей / ред. Лазарев Л. П., Мосягин Г. М. - М., 1989. - (Труды / МГТУ им. Н. Э. Баумана ; № 536). - С. 110-124.

Вагулина Е. В., Панфилова Е. В., Сырицкий А. Б.
   Исследование многослойных структур на основе опаловых пленой методом сканирующей туннельной микроскопии / Вагулина Е. В., Панфилова Е. В., Сырицкий А. Б. // Высокие технологии в промышленности России (материалы и устройства функциональной электроники и микрофотоники). XX Междунар. научно-техн. конф. Тонкие пленки в электронике. XXVII Междунар. симпозиума. Наноинженерия. VII Междунар. научно-техн. конф. : сборник научных трудов / ред. Белянин А. Ф., Панфилов Ю. В., Самойлович М. И. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 2015. - С. 252-256.