524 записи
Белозерский Г. Н.
Мёссбауэровская спектроскопия как метод исследования поверхности / Белозерский Г. Н. - М. : Энергоатомиздат, 1990. - 351 с. : ил. - Библиогр.:с. 334-349 . - ISBN 5-283-03566-2 .
Мёссбауэровская спектроскопия как метод исследования поверхности / Белозерский Г. Н. - М. : Энергоатомиздат, 1990. - 351 с. : ил. - Библиогр.:
Белоусов А. В., Коварский В. А., Синявский Э. П.
Оптические свойства молекулярных систем в поле низкочастотного лазерного излучения : монография / Белоусов А. В., Коварский В. А., Синявский Э. П. ; Академия наук Молдавской ССР, Институт прикладной физики ; общ. ред. Коварский В. А. - Кишинёв : Штиинца, 1989. - 127 с. : граф. - Библиогр.:с. 118-126 . - ISBN 5-376-00050-8 .
Оптические свойства молекулярных систем в поле низкочастотного лазерного излучения : монография / Белоусов А. В., Коварский В. А., Синявский Э. П. ; Академия наук Молдавской ССР, Институт прикладной физики ; общ. ред. Коварский В. А. - Кишинёв : Штиинца, 1989. - 127 с. : граф. - Библиогр.:
Берлин Е. В., Сейдман Л. А.
Получение тонких пленок реактивным магнетронным распылением / Берлин Е. В., Сейдман Л. А. - 2-е изд., испр. и доп. - М. : URSS : Ленанд, 2022. - 316 с. : рис., табл. - Библиогр.:с. 304-316 . - ISBN 978-5-9710-9680-1 .
Получение тонких пленок реактивным магнетронным распылением / Берлин Е. В., Сейдман Л. А. - 2-е изд., испр. и доп. - М. : URSS : Ленанд, 2022. - 316 с. : рис., табл. - Библиогр.:
Берлин Е. В., Сейдман Л.
Ионно-плазменные процессы в тонкопленочной технологии / Берлин Е. В., Сейдман Л. - М. : ТЕХНОСФЕРА, 2010. - 527 с. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр.в конце гл. - ISBN 978-5-94836-222-9 .
Ионно-плазменные процессы в тонкопленочной технологии / Берлин Е. В., Сейдман Л. - М. : ТЕХНОСФЕРА, 2010. - 527 с. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр.
Бётгер Х.
Принципы динамической теории решетки : пер. с англ. / Бётгер Х. ; ред. Булаевский Л. Н. ; пер. Буздин А. И., Долгов О. В. - М. : Мир, 1986. - 382 с. : ил. - Библиогр.:с. 368-382 .
Принципы динамической теории решетки : пер. с англ. / Бётгер Х. ; ред. Булаевский Л. Н. ; пер. Буздин А. И., Долгов О. В. - М. : Мир, 1986. - 382 с. : ил. - Библиогр.:
Биркс Л. С.
Рентгеновский микроанализ с помощью электронного зонда / Биркс Л. С. ; ред. Нарбутт К. И. ; пер. с англ. Латунина И. П., Смирновой И. С. - М. : Металлургия, 1966. - 216 с. : ил. - Библиогр.:с. 205-213 .
Рентгеновский микроанализ с помощью электронного зонда / Биркс Л. С. ; ред. Нарбутт К. И. ; пер. с англ. Латунина И. П., Смирновой И. С. - М. : Металлургия, 1966. - 216 с. : ил. - Библиогр.:
Бирман Дж.
Пространственная симметрия и оптические свойства твердых тел : пер. с англ. / Бирман Дж. ; ред. пер. Ребане К. К. - М. : Мир, 1978.
Т. 1 / Пер. с англ. Ипатова И. П., Субашиев А. В. - 387 с. - Библиогр.:с. 379-382 .
Пространственная симметрия и оптические свойства твердых тел : пер. с англ. / Бирман Дж. ; ред. пер. Ребане К. К. - М. : Мир, 1978.
Т. 1 / Пер. с англ. Ипатова И. П., Субашиев А. В. - 387 с. - Библиогр.:
Бирман Дж.
Пространственная симметрия и оптические свойства твердых тел : пер. с англ. / Бирман Дж. ; ред. пер. Ребане К. К. - М. : Мир, 1978.
Т. 2 / Пер. с англ. Ипатова И. П., Завт Г. С. - 352 с. : ил.
Пространственная симметрия и оптические свойства твердых тел : пер. с англ. / Бирман Дж. ; ред. пер. Ребане К. К. - М. : Мир, 1978.
Т. 2 / Пер. с англ. Ипатова И. П., Завт Г. С. - 352 с. : ил.
Блатт Ф.
Физика электронной проводимости в твердых телах / Блатт Ф. ; пер. с англ. Краско Г. Л., Сурис Р. А. - М. : Мир, 1971. - 470 с. : ил. - Библиогр.в конце гл.
Физика электронной проводимости в твердых телах / Блатт Ф. ; пер. с англ. Краско Г. Л., Сурис Р. А. - М. : Мир, 1971. - 470 с. : ил. - Библиогр.