574 записи
Статья
Черторийский А. А., Сергеев В. А.
Контроль температурных полей и теплофизических параметров мощных транзисторов дилатометрическим методом / Черторийский А. А., Сергеев В. А. // Нано- и микросистемная техника. - 2007. - № 10. -С. 41-46 .
Контроль температурных полей и теплофизических параметров мощных транзисторов дилатометрическим методом / Черторийский А. А., Сергеев В. А. // Нано- и микросистемная техника. - 2007. - № 10. -
Чехович Е. К.
Оптико-электронные методы автоматизированного контроля топологии изделий микроэлектроники / Чехович Е. К. ; ред. Пилипович В. А. ; Академия наук Белорусской ССР, Институт электроники. - Минск : Наука и техника, 1989. - 212 с. : рис. - Библиогр.:с. 200-211 . - ISBN 5-343-00087-8 .
Оптико-электронные методы автоматизированного контроля топологии изделий микроэлектроники / Чехович Е. К. ; ред. Пилипович В. А. ; Академия наук Белорусской ССР, Институт электроники. - Минск : Наука и техника, 1989. - 212 с. : рис. - Библиогр.:
Статья
Чижиков С. В., Назаров В. В., Мальгинов А. В.
Анализ требований к техническим параметрам медицинских микроволновых радиотермометров / Чижиков С. В., Назаров В. В., Мальгинов А. В. // Нанотехнологии. Разработка. Применение. ХХI век. - 2021. - Т. 13, № 1. -С. 48-54 .
Анализ требований к техническим параметрам медицинских микроволновых радиотермометров / Чижиков С. В., Назаров В. В., Мальгинов А. В. // Нанотехнологии. Разработка. Применение. ХХI век. - 2021. - Т. 13, № 1. -
Статья
Чижиков С. В., Соловьев Ю. В.
Элементная база МИС СВЧ для микроволновой радиотермометрии / Чижиков С. В., Соловьев Ю. В. // Нанотехнологии. Разработка. Применение. ХХI век. - 2020. - Т. 12, № 2. -С. 48-57 .
Элементная база МИС СВЧ для микроволновой радиотермометрии / Чижиков С. В., Соловьев Ю. В. // Нанотехнологии. Разработка. Применение. ХХI век. - 2020. - Т. 12, № 2. -
Статья
Чижиков С. В., Тихомиров В. Г., Гудков Г. А.
Исследование влияния топологии базового транзистора на статические характеристики с целью определения оптимальной конструкции транзистора в составе МИС для микроволновой радиотермометрии / Чижиков С. В., Тихомиров В. Г., Гудков Г. А. // Нанотехнологии. Разработка. Применение. ХХI век. - 2020. - Т. 12, № 4. -С. 40-53 .
Исследование влияния топологии базового транзистора на статические характеристики с целью определения оптимальной конструкции транзистора в составе МИС для микроволновой радиотермометрии / Чижиков С. В., Тихомиров В. Г., Гудков Г. А. // Нанотехнологии. Разработка. Применение. ХХI век. - 2020. - Т. 12, № 4. -
Статья
Чувствительность параметров малошумящих усилителей / Вьгинов В. Н., Зыбин А. А., Тихомиров В. Г., Видякин С. И., Агасиева С. В., Чижиков С. В. // Машиностроитель. - 2016. - № 12. - С. 9-12 .
Шарупич Л. С., Тугов Н. М.
Оптоэлектроника [Электрон. ресурс] : учебник для сред. спец. учеб. заведений / Шарупич Л. С., Тугов Н. М. - М. : Энергоатомиздат, 1984. - + 1 CD-ROM.
Оптоэлектроника [Электрон. ресурс] : учебник для сред. спец. учеб. заведений / Шарупич Л. С., Тугов Н. М. - М. : Энергоатомиздат, 1984. - + 1 CD-ROM.
Статья
Шашурин В. Д., Ветрова Н. А., Мешков С. А.
Обеспечение надежности смесителей радиосигналов на резонансно-туннельных диодах на этапе их сборки / Шашурин В. Д., Ветрова Н. А., Мешков С. А. // Сборка в машиностроении, приборостроении. - 2012. - № 7. -С. 40-45 .
Обеспечение надежности смесителей радиосигналов на резонансно-туннельных диодах на этапе их сборки / Шашурин В. Д., Ветрова Н. А., Мешков С. А. // Сборка в машиностроении, приборостроении. - 2012. - № 7. -
Статья
Шашурин В. Д., Ветрова Н. А., Синельщикова М. А.
Расчетно-методическое обеспечение выбора рациональных конструкторско-технологических решений при производстве радиоэлектронных средств на наноприборах с целью повышения их надежности / Шашурин В. Д., Ветрова Н. А., Синельщикова М. А. // Наноинженерия. - 2013. - № 1. -С. 40-45 .
Расчетно-методическое обеспечение выбора рациональных конструкторско-технологических решений при производстве радиоэлектронных средств на наноприборах с целью повышения их надежности / Шашурин В. Д., Ветрова Н. А., Синельщикова М. А. // Наноинженерия. - 2013. - № 1. -