Расширенный поиск
777 записей
Погарев Г. В., Киселев Н. Г.
Оптические юстировочные задачи : справочник / Погарев Г. В., Киселев Н. Г. - 2-е изд., перераб. и доп. - Л. : Машиностроение, Ленингр. отд-ние, 1989. - 259 с. : рис., табл. - Библиогр.:с. 256-257 . - ISBN 5-217-00413-4 .
Оптические юстировочные задачи : справочник / Погарев Г. В., Киселев Н. Г. - 2-е изд., перераб. и доп. - Л. : Машиностроение, Ленингр. отд-ние, 1989. - 259 с. : рис., табл. - Библиогр.:
Аналитическое описание
Подобрянский А. В., Горшков В. А., Чучаев В. В.
Некоторые вопросы технологии изготовления объектива с асферической поверхностью / Подобрянский А. В., Горшков В. А., Чучаев В. В. // Технология производства оптико-электронных приборов : сборник статей / ред. Семибратов М. Н. ; МВТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 1972. - (Труды / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; № 155). -С. 15-24 .
Некоторые вопросы технологии изготовления объектива с асферической поверхностью / Подобрянский А. В., Горшков В. А., Чучаев В. В. // Технология производства оптико-электронных приборов : сборник статей / ред. Семибратов М. Н. ; МВТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 1972. - (Труды / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; № 155). -
Аналитическое описание
Подобрянский А. В.
О задании допусков при формообразовании асферических поверхностей / Подобрянский А. В. // Оптико-электронные приборы : сборник статей / ред. Лазарев Л. П. ; МВТУ им. Н. Э. Баумана. - 1973. - Вып. 6. -С. 127-135 .
О задании допусков при формообразовании асферических поверхностей / Подобрянский А. В. // Оптико-электронные приборы : сборник статей / ред. Лазарев Л. П. ; МВТУ им. Н. Э. Баумана. - 1973. - Вып. 6. -
Аналитическое описание
Подобрянский А. В.
Погрешности обработки асферических поверхностей в двухкомпонентных зеркальных оптических системах / Подобрянский А. В. // Оптико-электронные приборы : сборник статей / ред. Лазарев Л. П. ; МВТУ им. Н. Э. Баумана. - 1974. - Вып. 8. -С. 69-76 .
Погрешности обработки асферических поверхностей в двухкомпонентных зеркальных оптических системах / Подобрянский А. В. // Оптико-электронные приборы : сборник статей / ред. Лазарев Л. П. ; МВТУ им. Н. Э. Баумана. - 1974. - Вып. 8. -
Аналитическое описание
Подобрянский А. В.
Технологический метод контроля вогнутых асферических поверхностей / Подобрянский А. В. // Оптико-электронные приборы : сборник статей / ред. Лазарев Л. П. ; МВТУ им. Н. Э. Баумана. - 1973. - Вып. 6. -С. 135-138 .
Технологический метод контроля вогнутых асферических поверхностей / Подобрянский А. В. // Оптико-электронные приборы : сборник статей / ред. Лазарев Л. П. ; МВТУ им. Н. Э. Баумана. - 1973. - Вып. 6. -
Покотило С. А., Песчаный Ю. Ю.
Основы оптоэлектроники : учебник / Покотило С. А., Песчаный Ю. Ю. - М. ; Вологда : Инфра-Инженерия, 2025. - 335 с. : рис., табл., граф. - Библиогр.:с. 335 . - ISBN 978-5-9729-2354-0 .
Основы оптоэлектроники : учебник / Покотило С. А., Песчаный Ю. Ю. - М. ; Вологда : Инфра-Инженерия, 2025. - 335 с. : рис., табл., граф. - Библиогр.:
Статья в журнале
Полые фотонно-кристаллические волокна для передачи мегаваттных фемтосекундных импульсов в солитонном режиме / Федотов А. Б., Сидоров-Бирюков Д. А., Иванов А. А., Алфимов М. В., Желтиков А. М. // Российские нанотехнологии. - 2007. - Т. 2, № 3-4. - С. 134-139 .
Пономарев В. М., Капитанова З. Г., Буцев А. А.
Проектирование оптико-электронных приборов (практическое руководство) : учеб. пособие по курсовому проектированию / Пономарев В. М., Капитанова З. Г., Буцев А. А. ; ред. Потапцев И. С. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2003. - 44 с. : ил. - Библиогр.:с. 44 . - ISBN 5-7038-2364-1 .
Проектирование оптико-электронных приборов (практическое руководство) : учеб. пособие по курсовому проектированию / Пономарев В. М., Капитанова З. Г., Буцев А. А. ; ред. Потапцев И. С. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2003. - 44 с. : ил. - Библиогр.:
Аналитическое описание
Пономарев В. М.
Методы определения фоновой облученности ПАИ ОЭП собственным излучением элементов их конструкции / Пономарев В. М. // Оптико-электронные приборы : сборник статей / ред. Лазарев Л. П., Мосягин Г. М. - М., 1989. - (Труды / МГТУ им. Н. Э. Баумана ; № 536). -С. 125-141 .
Методы определения фоновой облученности ПАИ ОЭП собственным излучением элементов их конструкции / Пономарев В. М. // Оптико-электронные приборы : сборник статей / ред. Лазарев Л. П., Мосягин Г. М. - М., 1989. - (Труды / МГТУ им. Н. Э. Баумана ; № 536). -