Расширенный поиск

Мелюков Д. В., Григорьянц А. Г.
   Технология управляемой лазерной обработки пленок / Мелюков Д. В., Григорьянц А. Г. // Технология машиностроения. - 2011. - № 11. - С. 31-33.

   Метод аттестационного контроля поверхностных неоднородностей оптических деталей на основе частотного анализа профиля поверхности / Денисов Д. Г., Барышников Н. В., Гладышева Я. В., Карасик В. Е., Морозов А. Б., Патрикеев В. Е. // Измерительная техника. - 2017. - № 2. - С. 15-19.

   Метод и устройство для одноэтапной цифровой записи цветных полнопараллаксных голограммных стереограмм / Жердев А. Ю., Лушников Д. С., Маркин В. В., Одиноков С. Б., Смирнов А. В. // Вестник МГТУ им. Н. Э. Баумана. Сер. Приборостроение. - 2017. - № 1. - С. 16-23.

   Метод измерения формы оптических деталей приборами на основе датчиков волнового фронта / Барышников Н. В., Животовский И. В., Карасик В. Е., Сахаров А. А. // Контенант. - 2018. - Т. 17, № 3. - С. 129-135.

   Метод исследования спектральных оптических характеристик однородной среды с помощью терагерцовой импульсной спектроскопии / Зайцев К. И., Гавдуш А. А., Лебедев С. П., Карасик В. Е., Юрченко С. О. // Оптика и спектроскопия. - 2015. - Т. 118, № 4. - С. 582-593.

   Метод обнаружения нефтяных загрязнений на водной поверхности, основанный на регистрации флуоресцентного излучения в двух узких спектральных диапазонах / Федотов Ю. В., Белов М. Л., Матросова О. А., Городничев В. А., Козинцев В. И. // Вестник МГТУ им. Н. Э. Баумана. Сер. Приборостроение. - 2010. - № 2. - С. 39-47.

   Методика идентификации веществ по положению характерных линий в спектрах комбинационного рассеяния света / Гылка Р. А., Анфимов Д. Р., Чубаркина Я. Р., Демкин П. П., Фуфурин И. Л. // Оптика и спектроскопия. - 2025. - Т. 133, № 3. - С. 308-312.

   Методика расчета световой эффективности RGB-кластеров / Павлов В. Ю., Пясецкий В. Б., Хорохоров А. М., Ширанков А. Ф. // Контенант. - 2016. - Т. 15, № 3. - С. 53-57.

   Методика формирования базы данных эталонных спектров отражения для мониторинга космических объектов / Федоренко Д. С., Алдохина В. Н., Лиференко В. Д., Ромахин В. А., Чеботарь К. И. // Успехи современной радиоэлектроники. - 2023. - Т. 77, № 4. - С. 22-28.

   Методы анализа качества дифракционных решеток для датчиков линейного перемещения / Шишова М. В., Одиноков С. Б., Лушников Д. С., Жердев А. Ю. // Оптический журнал. - 2018. - Т. 85, № 7. - С. 27-32.