Расширенный поиск

   Исследование линейных электрических цепей постоянного тока : метод. указания к лаб. работе №1 по курсу "Электротехника и электроника" / Сперанская Л. А., Лаврентьев В. В., Корниенко А. Н., Маханьков В. В. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2009. - 16 с. : ил. - Библиогр. в конце брош.

   Исследование металлоорганических гетероструктур методами широкополосной ИК элипсометрии-спектроскопии / Макеев М. О., Иванов Ю. А., Ветрова Н. А., Козубняк С. А. // Вестник МГТУ им. Н. Э. Баумана. Сер. Приборостроение. - 2010. - № спецвыпуск. - С. 80-91.

   Исследование методами компьютерного моделирования наноскопических характеристик композиционных материалов / Коржавый А. П., Логинов Б. М., Логинова М. Б., Белов Ю. С., Рыбкин С. В. // Наукоемкие технологии. - 2017. - Т. 18, № 2. - С. 53-63.

   Исследование механических характеристик однослойных и многослойных наноструктур на основе углеродных и фторуглеродных покрытий / Елинсон В. М., Щур П. А., Кириллов Д. В., Лямин А. Н., Сильницкая О. А. // Поверхность: рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. - 2018. - № 4. - С. 69-73.

   Исследование микроструктурных влажностных деформаций в эпоксидном стеклопластике при тепловлажностной коррозии с помощью волоконно-оптических датчиков деформаций / Далинкевич А. А., Михеев П. В., Гусев С. А., Игонин Т. Н., Максаева Л. Б., Ненашева Т. А. // Коррозия: материалы, защита. - 2017. - № 3. - С. 42-46.

   Исследование неуправляемых и управляемых выпрямительных устройств : метод. указания к лабораторной работе / Васюков С. А., Лаврентьев В. В., Мисеюк О. И., Красовский А. Б. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2007. - 22 с. : ил.

   Исследование оптических свойств GaAs, выращенного методом молекулярно-лучевой эпитаксии при низких температурах роста, с delta-легированными слоями Si / Лаврухин Д. В., Ячменев А. Э., Бугаев А. С., Галиев Г. Б., Климов Е. А., Хабибуллин Р. А., Пономарев Д. С., Мальцев П. П. // Физика и техника полупроводников. - 2015. - Т. 49, № 7. - С. 932-935.

   Исследование параметров и характеристик полупроводниковых приборов с применением интернет-технологий : учеб. пособие для вузов / Глинченко А. С., Егоров Н. М., Комаров В. А., Сарафанов А. В. - М. : ДМК Пресс, 2008. - 343 с. : ил. + CD-ROM. - Библиогр.: с. 317-318. - ISBN 5-94074-416-8.

   Исследование показателей качества СВЧ-микросхем с помощью системы Advanced Design System (ADS) компании Agilent Technologies : учебное пособие / Алексаноров Р. Ю., Малышев К. В., Мешков С. А. [и др.] ; ред. Федоров И. Б. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2008. - 77 с. ил. - Библиогр.: с. 76. - ISBN 978-5-7038-3131-1.

   Исследование процесса нанесения тонких пленок на наноструктурированную поверхность / Беседина К. Н., Вострикова А. В., Двухшерстова О. О., Калинин В. Н., Панфилова Е. В. // Наноинженерия. - 2013. - № 12. - С. 36-39.