RU/EN
RU/EN
Очистить
5041 запись
   Статья
   Минимизация резонансных колебаний в системе с переменной структурой / Павлов Ю. Н., Недашковский В. М., Оганов В. И., Тихомирова Е. А. // Динамика сложных систем. - 2018. - Т. 12, № 4. - С. 53-58.
   Статья
Минин И. К., Бунина В. В.
   Разработка электронного журнала куратора для автоматизации образовательного процесса / Минин И. К., Бунина В. В. // Наукоемкие технологии в приборо- и машиностроении и развитие инновационной деятельности в вузе. : материалы Всероссийской научно-технической конференции, Калуга, 14-16 ноября 2023 года : в 2 т. / МГТУ им. Н. Э. Баумана (национальный исследовательский университет), Калужский филиал. - 2024. - Т. 1 : Секции 1-11. - С. 176-180.
   Статья
Минмин Ч., Неусыпин К. А.
   Исследование двухрежимного алгоритма совместной обработки инфракрасных и видимых изображений на основе остаточной сети / Минмин Ч., Неусыпин К. А. // Автоматизация. Современные технологии. - 2023. - Т. 77, № 6. - С. 268-276.
   Статья
Мироненко А. В., Коляда Ю. Б., Янушкин В. Н.
   Цифровая счетно-компенсационная система для измерения перемещений / Мироненко А. В., Коляда Ю. Б., Янушкин В. Н. // Состояние и проблемы технических измерений : Всерос. науч.-техн. конф. (5; 1998; М.). Тезисы докладов / Рос. метролог. акад., Моск. науч.-техн. о-во приб. и метр. - М., 1998. - С. 24-25.
Мироненко А. В.
   Фотоэлектрические измерительные системы (измерение линейных и угловых величин) / Мироненко А. В. - М. : Энергия, 1967. - 359 с. : ил. - Библиогр.: с. 356-358.
2 экз.
Миронов В. Л.
   Основы сканирующей зондовой микроскопии : учеб. пособие для вузов / Миронов В. Л. ; РАН. Ин-т физики микроструктур. - М. : Техносфера, 2004. - 143 с. : ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр.: с. 140-143. - ISBN 5-94836-034-2.
2 экз.
Миронов В. Л.
   Основы сканирующей зондовой микроскопии : учеб. пособие для вузов / Миронов В. Л. ; РАН, Ин-т физики микроструктур. - М. : Техносфера, 2005. - 143 с. : ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр.: с. 140-143. - ISBN 5-94836-034-2.
7 экз.
Миронов В. Л.
   Основы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие для вузов / Миронов В. Л. ; РАН, Институт физики микроструктур г. Нижний Новгород. - М. : ТЕХНОСФЕРА, 2013. - 143 с. : ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр.: с. 140-143. - ISBN 978-5-94836-236-6.
1 экз.
Мироновский Л. А.
   Функциональное диагностирование динамических систем : монография / Мироновский Л. А. - М. : Изд-во МГУ ; СПб. : ГРИФ, 1998. - 254 с. : рис., табл. - Библиогр.: с. 250-253. - ISBN 5-88141-040-8.
2 экз.
   Статья
Миронченко В. И., Уваров А. В.
   Переналаживаемые приборы для контроля размеров мелких деталей / Миронченко В. И., Уваров А. В. // Приборы. - 2013. - № 6. - С. 1-7.
Страница: ... 280 281 282 283 284 285 286 287 288 ...