356 записей
Основы технологии электронной компонентной базы : учебно-методическое пособие / Рабинович О. И., Крутогин Д. Г., Маренкин С. Ф. [и др.]. - Издательский Дом МИСиС, 2015.
Марков В. Ф., Мухамедзянов Х. Н., Маскаева Л. Н.
Материалы современной электроники : учебное пособие / Марков В. Ф., Мухамедзянов Х. Н., Маскаева Л. Н. ; ред. Маркова В. Ф. - Уральский федеральный университет, ЭБС АСВ, 2014. -ISBN 978-5-7996-1186-6 .
Материалы современной электроники : учебное пособие / Марков В. Ф., Мухамедзянов Х. Н., Маскаева Л. Н. ; ред. Маркова В. Ф. - Уральский федеральный университет, ЭБС АСВ, 2014. -
Портнов О. Г.
Технология объемных монокристаллов полупроводников и диэлектриков: выращивание технологичных монокристаллов иодата лития для устройств нелинейной оптики : учебное пособие / Портнов О. Г. ; ред. Антипова В. В. - Издательский Дом МИСиС, 2014. -ISBN 978-5-87623-799-6 .
Технология объемных монокристаллов полупроводников и диэлектриков: выращивание технологичных монокристаллов иодата лития для устройств нелинейной оптики : учебное пособие / Портнов О. Г. ; ред. Антипова В. В. - Издательский Дом МИСиС, 2014. -
Пархоменко Ю. Н., Полисан А. А.
Физика и технология приборов фотоники: солнечная энергетика и нанотехнологии : учебное пособие / Пархоменко Ю. Н., Полисан А. А. - Издательский Дом МИСиС, 2014. -ISBN 978-5-87623-848-1 .
Физика и технология приборов фотоники: солнечная энергетика и нанотехнологии : учебное пособие / Пархоменко Ю. Н., Полисан А. А. - Издательский Дом МИСиС, 2014. -
Таперо К. И., Диденко С. И.
Основы радиационной стойкости изделий электронной техники: радиационные эффекты в изделиях электронной техники : учебное пособие / Таперо К. И., Диденко С. И. - Издательский Дом МИСиС, 2013. -ISBN 978-5-87623-661-6 .
Основы радиационной стойкости изделий электронной техники: радиационные эффекты в изделиях электронной техники : учебное пособие / Таперо К. И., Диденко С. И. - Издательский Дом МИСиС, 2013. -
Величко А. А., Кольцов Б. Б.
Определение толщины эпитаксиальных слоев и ширины запрещенной зоны полупроводников методом ИК Фурье-спектрометрии : учебно-методическое пособие / Величко А. А., Кольцов Б. Б. - Новосибирский государственный технический университет, 2012. -ISBN 978-5-7782-1924-3 .
Определение толщины эпитаксиальных слоев и ширины запрещенной зоны полупроводников методом ИК Фурье-спектрометрии : учебно-методическое пособие / Величко А. А., Кольцов Б. Б. - Новосибирский государственный технический университет, 2012. -
Реутов А. Т.
Физика лазеров. Часть 2. Основы теории лазеров : учебное пособие / Реутов А. Т. - Российский университет дружбы народов, 2011. -ISBN 978-5-209-03654-8 .
Физика лазеров. Часть 2. Основы теории лазеров : учебное пособие / Реутов А. Т. - Российский университет дружбы народов, 2011. -
Дикарева Р. П., Хабаров С. П.
Физика твердого тела и полупроводников. Исследование температурной зависимости энергии Ферми методом термоЭДС : учебно-методическое пособие / Дикарева Р. П., Хабаров С. П. - Новосибирский государственный технический университет, 2011. -ISBN 978-5-7782-1666-2 .
Физика твердого тела и полупроводников. Исследование температурной зависимости энергии Ферми методом термоЭДС : учебно-методическое пособие / Дикарева Р. П., Хабаров С. П. - Новосибирский государственный технический университет, 2011. -
Ковалев А. Н.
Гетероструктурная наноэлектроника : учебное пособие / Ковалев А. Н. - Издательский Дом МИСиС, 2009.
Гетероструктурная наноэлектроника : учебное пособие / Ковалев А. Н. - Издательский Дом МИСиС, 2009.