737 записей
Статья
Каледин С. Б., Коротков В. П., Пономарев В. М.
Экспериментальная оценка возможности применения коэффициента экранизация по площади при определении облученности в плоскости анализа ОЭП / Каледин С. Б., Коротков В. П., Пономарев В. М. // Оптико-электронные приборы : сборник статей / ред. Лазарев Л. П. ; МВТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 1981. - (Труды / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; № 368). -С. 16-26 .
Экспериментальная оценка возможности применения коэффициента экранизация по площади при определении облученности в плоскости анализа ОЭП / Каледин С. Б., Коротков В. П., Пономарев В. М. // Оптико-электронные приборы : сборник статей / ред. Лазарев Л. П. ; МВТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 1981. - (Труды / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; № 368). -
Статья
Каледин С. Б., Коротков В. П.
Учет внутриприборных фоновых засветок при расчете электрического сигнала в ОЭП / Каледин С. Б., Коротков В. П. // Оптико-электронные приборы : сборник статей / ред. Лазарев Л. П., Мосягин Г. М. - М., 1989. - (Труды / МГТУ им. Н. Э. Баумана ; № 536). -С. 49-65 .
Учет внутриприборных фоновых засветок при расчете электрического сигнала в ОЭП / Каледин С. Б., Коротков В. П. // Оптико-электронные приборы : сборник статей / ред. Лазарев Л. П., Мосягин Г. М. - М., 1989. - (Труды / МГТУ им. Н. Э. Баумана ; № 536). -
Каледин С. Б.
Расчет коэффициента пропускания атмосферы при проектировании оптико-электронных приборов : учебное пособие / Каледин С. Б. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2006. - 47 с. - Библиогр.:с. 47 . - ISBN 5-7038-2874-0 .
Расчет коэффициента пропускания атмосферы при проектировании оптико-электронных приборов : учебное пособие / Каледин С. Б. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2006. - 47 с. - Библиогр.:
Статья
Карасик В. Е., Вязовых М. В.
Имитационная модель процесса формирования изображения реальными оптическими системами в рассеивающих средах / Карасик В. Е., Вязовых М. В. // Вестник МГТУ им. Н. Э. Баумана. Сер. Приборостроение. - 2005. - № 1. -С. 30-42 .
Имитационная модель процесса формирования изображения реальными оптическими системами в рассеивающих средах / Карасик В. Е., Вязовых М. В. // Вестник МГТУ им. Н. Э. Баумана. Сер. Приборостроение. - 2005. - № 1. -
Статья
Карасик В. Е.
К вопросу об оценке отражающих свойств поверхностей / Карасик В. Е. // Оптико-электронные приборы : сборник статей / ред. Лазарев Л. П. ; МВТУ им. Н. Э. Баумана. - 1976. - Вып. 9. -С. 11-12 .
К вопросу об оценке отражающих свойств поверхностей / Карасик В. Е. // Оптико-электронные приборы : сборник статей / ред. Лазарев Л. П. ; МВТУ им. Н. Э. Баумана. - 1976. - Вып. 9. -
Статья
Карасик В. Е., Рыбальский В. В.
Исследование порогового блеска наносекундных световых импульсов / Карасик В. Е., Рыбальский В. В. // Оптико-электронные приборы : сборник статей / ред. Лазарев Л. П. ; МВТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 1981. - (Труды / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; № 368). -С. 145-152 .
Исследование порогового блеска наносекундных световых импульсов / Карасик В. Е., Рыбальский В. В. // Оптико-электронные приборы : сборник статей / ред. Лазарев Л. П. ; МВТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 1981. - (Труды / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; № 368). -
Статья
Карасик В. Е., Терещенко Н. Л.
Анализ эффективности оптико-механических лазерных сканисторов / Карасик В. Е., Терещенко Н. Л. // Расчёт и проектирование оптико-электронных приборов : сборник статей / МВТУ им. Н. Э. Баумана. - 1979. - Вып. 12 / ред. Лазарев Л. П. -С. 108-115 .
Анализ эффективности оптико-механических лазерных сканисторов / Карасик В. Е., Терещенко Н. Л. // Расчёт и проектирование оптико-электронных приборов : сборник статей / МВТУ им. Н. Э. Баумана. - 1979. - Вып. 12 / ред. Лазарев Л. П. -
Карпов А. И., Кренев В. А.
Синтез систем управления бортовых оптико-электронных приборов : учебное пособие / Карпов А. И., Кренев В. А. - М. ; Вологда : Инфра-Инженерия, 2024. - 141 с. : рис., табл., граф. - Библиогр.:с. 138-141 . - ISBN 978-5-9729-1822-5 .
Синтез систем управления бортовых оптико-электронных приборов : учебное пособие / Карпов А. И., Кренев В. А. - М. ; Вологда : Инфра-Инженерия, 2024. - 141 с. : рис., табл., граф. - Библиогр.:
Карпухин С. Д., Быков Ю. А.
Световая микроскопия и количественная обработка изображений структур материалов : учебное пособие по курсу "Современные методы исследования структуры материалов" / Карпухин С. Д., Быков Ю. А. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2003. - 48 с. ил. - Библиогр.:с. 48 . - ISBN 5-7038-2352-8 .
Световая микроскопия и количественная обработка изображений структур материалов : учебное пособие по курсу "Современные методы исследования структуры материалов" / Карпухин С. Д., Быков Ю. А. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2003. - 48 с. ил. - Библиогр.: