Расширенный поиск
311 записей
Автореферат диссертации
Пиотровская И. Н.
Методика измерений и алгоритмы компенсации систематических погрешностей автоматического рефрактометра : автореф. дис... ктн : 05. 11. 07 / Пиотровская И. Н. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 2010. - 16 с.
Методика измерений и алгоритмы компенсации систематических погрешностей автоматического рефрактометра : автореф. дис... ктн : 05. 11. 07 / Пиотровская И. Н. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 2010. - 16 с.
Диссертация
Пиотровская И. Н.
Методика измерений и алгоритмы компенсации систематических погрешностей автоматического рефрактометра : дис... ктн : 05. 11. 07 / Пиотровская И. Н. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 2010. - 161 л. - Библиогр.:л. 155-161 .
Методика измерений и алгоритмы компенсации систематических погрешностей автоматического рефрактометра : дис... ктн : 05. 11. 07 / Пиотровская И. Н. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 2010. - 161 л. - Библиогр.:
Поверхностно-усиленная рамановская спектроскопия (SERS): аналитические, биофизические и биомедицинские приложения : пер. с англ. / ред. Шлюкер С. ; ред. пер. Лушникова А. А. - М. : Техносфера, 2017. - 331 с. : ил. - (Мир химии). - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-94836-425-4 .
Полупроводниковые тонкопленочные газовые сенсоры : [монография] / Максимова Н. К., Севастьянов Е. Ю., Сергейченко Н. В., Черников Е. В. ; Национальный исследовательский Томский государственный университет. - Томск : Изд-во науч.-техн. лит., 2016. - 163 с. : ил. - Библиогр.: с. 151-157 . - ISBN 978-5-89503-580-1 .
Полуэктов Н. С.
Спектроскопия в координационной и аналитической химии : избранные труды / Полуэктов Н. С. ; Академия наук Украинской ССР, Физико-химический институт им. А. В. Богатского. - Киев : Наукова думка, 1990. - 221 с. : рис., табл., граф. - Библиогр.в конце статей . - ISBN 5-12-001439-9 .
Спектроскопия в координационной и аналитической химии : избранные труды / Полуэктов Н. С. ; Академия наук Украинской ССР, Физико-химический институт им. А. В. Богатского. - Киев : Наукова думка, 1990. - 221 с. : рис., табл., граф. - Библиогр.
Полярография в аттестационном анализе стандартных образцов цветных металлов и сплавов : [коллективная монография] / Ватаман И. И., Кирияк Л. Г., Пономарева Т. В. [и др.] ; Академия наук Молдавской ССР, Институт химии ; отв. ред. Мадан Л. Г. - Кишинёв : Штиинца, 1989. - 106 с. - Библиогр. в конце статей . - ISBN 5-376-00277-2 .
Порай-Кошиц М. А.
Основы структурного анализа химических соединений : учеб. пособие для вузов / Порай-Кошиц М. А. - 2-е изд., перераб. и доп. - М. : Высшая школа, 1989. - 191 с.
Основы структурного анализа химических соединений : учеб. пособие для вузов / Порай-Кошиц М. А. - 2-е изд., перераб. и доп. - М. : Высшая школа, 1989. - 191 с.
Посыпайко В. И., Козырева Н. А., Логачева Ю. П.
Химические методы анализа : учебное пособие для вузов / Посыпайко В. И., Козырева Н. А., Логачева Ю. П. - М. : Высшая школа, 1989. - 447 с. : рис., табл., граф. - Библиогр.:с. 442-443 . - ISBN 5-06-000068-0 .
Химические методы анализа : учебное пособие для вузов / Посыпайко В. И., Козырева Н. А., Логачева Ю. П. - М. : Высшая школа, 1989. - 447 с. : рис., табл., граф. - Библиогр.:
Препаративная жидкостная хроматография / Бидлингмейер Б., Фрайд Б., Хегнауер Г. [и др.] ; ред. Бидлингмейер Б. ; пер. с англ. Ларионов О. Г. - М. : Мир, 1990. - 358 с. : ил. - Библиогр. в конце глав . - ISBN 5-03-001187-0 .