Расширенный поиск

Валиев Р. З., Вергазов А. Н., Герцман В. Ю.
   Кристаллогеометрический анализ межкристаллитных границ в практике электронной микроскопии : монография / Валиев Р. З., Вергазов А. Н., Герцман В. Ю. ; Академия наук СССР, Институт проблем сверхпластичности металлов. - М. : Наука, 1991. - 230 с. : рис., табл., граф. - Библиогр.: с. 221-225. - ISBN 5-02-000195-3.

Бахматов П. В., Григорьев В. В., Калугина А. А.
   Растровая электронная микроскопия как инструмент решения инженерных задач в сварке : учебное пособие / Бахматов П. В., Григорьев В. В., Калугина А. А. - М. ; Вологда : Инфра-Инженерия, 2024. - 147 с. : ил. - Библиогр.: с. 143-144. - ISBN 978-5-9729-2061-7.

   Всесоюзная конференция по электронной микроскопии, десятая, Ташкент, 5 октября - 8 октября 1976 г. : тезисы докладов / Академия наук СССР, Научный совет по электронной микроскопии, Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова, Институт физики твёрдого тела, Ташкентский медицинский институт, Институт биохимии, Институт ядерной физики, Институт электроники. - М., 1976.
   Т. 1. - 1976. - 388 с. : ил. - Библиогр. в конце статей.

Щука, А. А.  Электроника в 4 ч. Часть 1. Вакуумная и плазменная электроника : учебник для вузов / А. А. Щука, А. С. Сигов ; под редакцией А. С. Сигова. — 2-е изд., испр. и доп. — Москва : Издательство Юрайт, 2026. — 172 с. — (Высшее образование). — ISBN 978-5-534-01763-2.

Морозова, К. Н.  Основы электронной микроскопии : учебное пособие для вузов / К. Н. Морозова. — 2-е изд. — Москва : Издательство Юрайт, 2022. — 84 с. — (Высшее образование). — ISBN 978-5-534-14415-4.

Васильева Л. А., Малашенко Л. М., Тофпенец Р. Л.
   Электронная микроскопия в металловедении цветных металлов : справочник / Васильева Л. А., Малашенко Л. М., Тофпенец Р. Л. ; ред. Астапчик С. А. ; АН БССР, Физико-технический институт. - Минск : Наука и техника, 1989. - 206 с. : ил. - Библиогр.: с. 205-206. - ISBN 5-343-00089-4.

Рид С. Дж. Б.
   Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии / Рид С. Дж. Б. ; пер. с англ. Петрова Д. Б., Романенко И. М., Ревенко В. А. - М. : Техносфера, 2008. - 229 с., [8] с. фот. : ил. - (Мир наук о земле). - ISBN 978-5-94836-177-2.

   Сканирующая электронная микроскопия и рентгено-спектральный микроанализ в примерах практического применения : учеб. пособие для вузов / Криштал М. М., Ясников И. С., Полунин В. И. [и др.]. - М. : Техносфера, 2009. - 206 с. : ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-94836-200-7.

Пономаренко В. П., Филачев А. М.
   Инфракрасная техника и электронная оптика. Становление научных направлений (1946 - 2006) / Пономаренко В. П., Филачев А. М. - 2-е изд., стер. - М. : Физматкнига, 2008. - 334 с. : ил. - Библиогр.: с. 319-321. - ISBN 978-5-89155-175-6.

Соколова О. С., Богданов А. Г., Гризель А. В.
   Электронная микроскопия нанообъектов : учебно-метод. комплекс для магистров / Соколова О. С., Богданов А. Г., Гризель А. В. - М. : НОУДПО "Институт АйТи", 2011. - 140 с., [2] с. рис. : ил. - ISBN 978-5-98453-042-2.