Расширенный поиск

   Оптимизация параметров многоканальных непрерывно сканирующих систем цифровой рентгенографии / Удод В. А., Лебедев М. Б., Клименов В. А., Солодушкин В. И., Темник А. К. // Дефектоскопия. - 2011. - № 2. - С. 55-62.

   Оптические свойства нанокомпозитов : учебно-метод. комплекс для подготовки бакалавров по тематическому направлению деятельности нац. нанотехнол. сети "Композитные наноматериалы" / С. -Петербург. гос. ун-т. - СПб. : Изд-во Санкт-Петербургского государственного университета, 2011. - 130 с. : ил. - (Учебно-методический комплекс. Дисциплины ; вып. 22).

   Оптические характеристики нанодисперсных активных сред : [монография] / Донченко В. А., Землянов Ал. А., Панамарев Н. С., Харенков В. А. ; Сибирский физико-техн. ин-т, Томский гос. ун-т. - Томск : Научно-техн. лит., 2012. - 126 с. : ил. - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-89503-522-1.

   Оптические, электрические и радиоэкранирующие свойства тонких пленок на основе серебряных нанопроволок / Воронин А. С., Бриль И. И., Фадеев Ю. В., Павликов А. Ю., Симунин М. М., Волочаев М. Н., Говорун И. В., Подшивалов И. В., Макеев М. О., Михалев П. А., Паршин Б. А., Хартов С. В. // Журнал технической физики. - 2025. - Т. 95, № 1. - С. 98-106.

   Опыт применения моделирования в прогнозировании структуры штампованных поковок / Биба Н. В., Стебунов С. А., Овчинников А. В., Шмелев В. П. // Металловедение и термическая обработка металлов. - 2006. - № 7. - С. 49-52.

Осипов Ю. В., Славин М. Б.
   Компьютерное моделирование нанотехнологий, наноматериалов и наноструктур. Диффузия : учеб. пособие / Осипов Ю. В., Славин М. Б. - М. : Издательский дом МИСиС, 2011. - 72 с. : ил. - Библиогр.: с. 72. - ISBN 978-5-87623-420-9.

Осипов Ю. Р.
   Термообработка и работоспособность покрытий гуммированных объектов / Осипов Ю. Р. - М. : Машиностроение, 1995. - 231 с. : ил. - Библиогр.: с. 219-229. - ISBN 5-217-01875-5.

   Основные положения ГОСТ Р ИСО 9934-1 по магнитопорошковому контролю деталей, в основу которого положен международный стандарт ISO 9934-1 / Муравская Н. П., Шелихов Г. С., Артемьев Б. В., Глазков Ю. А. // Комментарии к стандартам, ТУ, сертификатам / приложение к журналу "Все материалы. Энциклопедический справочник". - 2015. - № 1. - С. 10-20.

   Основы аналитической электронной микроскопии / ред. Грен Дж. Дж., Гольдштейн Дж. И., Джой Д. К., Ромиг А. Д. ; ред. пер. с англ. Усиков М. П. - М. : Металлургия, 1990. - 583 с. : ил. - Библиогр. в конце глав. - ISBN 5-229-00375-5.

   Основы золь-гель технологии нанокомпозитов : учебно-метод. комплекс для подготовки бакалавров по тематическому направлению деятельности нац. нанотехнол. сети "Композитные наноматериалы" / С. -Петербург. гос. ун-т. - СПб. : Изд-во Санкт-Петербургского государственного университета, 2011. - 143 с. : ил. - (Учебно-методический комплекс. Дисциплины ; вып. 20).