32981 запись
Колесов И. М.
Основы технологии машиностроения : учебник для вузов / Колесов И. М. - 3-е изд., стер. - М. : Высшая школа, 2001. - 590 с. : ил. - (Технология, оборудование и автоматизация машиностроительных производств). - Библиогр.:с. 587-588 . - ISBN 5-06-003662-6 .
Основы технологии машиностроения : учебник для вузов / Колесов И. М. - 3-е изд., стер. - М. : Высшая школа, 2001. - 590 с. : ил. - (Технология, оборудование и автоматизация машиностроительных производств). - Библиогр.:
5 экз.
Статья
Колесов Н. В., Юрин С. Ю.
Способ фрезерования сложных поверхностей на станке с ЧПУ / Колесов Н. В., Юрин С. Ю. // Вестник машиностроения. - 2008. - № 8. -С. 56-58 .
Способ фрезерования сложных поверхностей на станке с ЧПУ / Колесов Н. В., Юрин С. Ю. // Вестник машиностроения. - 2008. - № 8. -
Статья
Колесова С. Я., Комкова Т. Ю.
Снижение динамической загруженности скобы рабочей клети редукционного стана трубопрокатного агрегата ТПА 30-102 / Колесова С. Я., Комкова Т. Ю. // Будущее машиностроения России : сборник докладов 11-й Всерос. конф. молодых учёных и специалистов (с междунар. участием), Москва, 24-27 сентября 2018 г. / МГТУ им. Н. Э. Баумана, Союз машиностроителей России. - М., 2018. -С. 214-217 .
Снижение динамической загруженности скобы рабочей клети редукционного стана трубопрокатного агрегата ТПА 30-102 / Колесова С. Я., Комкова Т. Ю. // Будущее машиностроения России : сборник докладов 11-й Всерос. конф. молодых учёных и специалистов (с междунар. участием), Москва, 24-27 сентября 2018 г. / МГТУ им. Н. Э. Баумана, Союз машиностроителей России. - М., 2018. -
Статья
Колешко В. М., Гулай А. В., Гулай В. А.
Туннельные МДМ-наносенсоры: стратегии и технологии моделирования / Колешко В. М., Гулай А. В., Гулай В. А. // Нано- и микросистемная техника. - 2007. - № 9. -С. 46-52 .
Туннельные МДМ-наносенсоры: стратегии и технологии моделирования / Колешко В. М., Гулай А. В., Гулай В. А. // Нано- и микросистемная техника. - 2007. - № 9. -
Колинько Т. А.
Измерения в цифровых системах связи : практическое руководство / Колинько Т. А. - Киев : Век+ : НТИ, 2002. - 315 с. : ил. -ISBN 966-7140-24-5 .
Измерения в цифровых системах связи : практическое руководство / Колинько Т. А. - Киев : Век+ : НТИ, 2002. - 315 с. : ил. -
1 экз.
Колинько Т. А.
Измерения в цифровых системах связи. Практическое руководство / Колинько Т. А. - Киев : Век+ : НТИ, 2013. - 315 с. : ил. -ISBN 978-966-7140-24-3 .
Измерения в цифровых системах связи. Практическое руководство / Колинько Т. А. - Киев : Век+ : НТИ, 2013. - 315 с. : ил. -
1 экз.
Колистратов М. В., Шапошникова Л. А., Огнев М. А.
Электротехника и электроника. Электротехника на оборудовании Lucas - Nulle : лабораторный практикум / Колистратов М. В., Шапошникова Л. А., Огнев М. А. ; ред. Дураджи В. Н. ; Министерство образования и науки Российской Федерации, Национальный исследовательский технологический университет "МИСиС", Кафедра электротехники и микропроцессорной электроники. - М. : Издательский дом МИСиС, 2012. - 54 с. : ил. - Библиогр.:с. 53 .
Электротехника и электроника. Электротехника на оборудовании Lucas - Nulle : лабораторный практикум / Колистратов М. В., Шапошникова Л. А., Огнев М. А. ; ред. Дураджи В. Н. ; Министерство образования и науки Российской Федерации, Национальный исследовательский технологический университет "МИСиС", Кафедра электротехники и микропроцессорной электроники. - М. : Издательский дом МИСиС, 2012. - 54 с. : ил. - Библиогр.:
1 экз.
Колистратов М. В., Шапошникова Л. А.
Электротехника и электроника. Электротехника на оборудовании National Instruments : лабораторный практикум / Колистратов М. В., Шапошникова Л. А. ; ред. Шамаро Л. А. ; Министерство образования и науки Российской Федерации, Национальный исследовательский технологический университет "МИСиС", Кафедра электротехники и микропроцессорной электроники. - М. : Издательский дом МИСиС, 2012. - 78 с. : ил. - Библиогр.:с. 77 .
Электротехника и электроника. Электротехника на оборудовании National Instruments : лабораторный практикум / Колистратов М. В., Шапошникова Л. А. ; ред. Шамаро Л. А. ; Министерство образования и науки Российской Федерации, Национальный исследовательский технологический университет "МИСиС", Кафедра электротехники и микропроцессорной электроники. - М. : Издательский дом МИСиС, 2012. - 78 с. : ил. - Библиогр.:
1 экз.
Количественное обоснование единого индекса вреда: Публикация № 45 МКРЗ (Рекомендации); Доклад междунар. комиссии по радиологической защите (Одобрен в марте 1985 г.) /Пер. с англ. - 1989. - 87 с.
2 экз.
Статья
Количественный структурно-энергетический анализ термической обработки конструкционной стали / Ким В. А., Петров В. В., Бутин А. В., Белова И. В., Шпилева А. А. // Металловедение и термическая обработка металлов. - 2010. - № 4. - С. 24-26 .
