Расширенный поиск

Волобуев А. Н., Скворцов А. В.
   О возможности сверхотражения электромагнитного излучения от поверхности металла / Волобуев А. Н., Скворцов А. В. // Вестник машиностроения. - 2008. - № 5. - С. 27-31.

   Всесоюзная конференция по электронной микроскопии, десятая, Ташкент, 5 октября - 8 октября 1976 г. : тезисы докладов / Академия наук СССР, Научный совет по электронной микроскопии, Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова, Институт физики твёрдого тела, Ташкентский медицинский институт, Институт биохимии, Институт ядерной физики, Институт электроники. - М., 1976.
   Т. 1. - 1976. - 388 с. : ил. - Библиогр. в конце статей.

   Всесоюзная конференция по электронной микроскопии, десятая, Ташкент, 5 октября - 8 октября 1976 г. : тезисы докладов / Академия наук СССР, Научный совет по электронной микроскопии, Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова, Институт физики твёрдого тела, Ташкентский медицинский институт, Институт биохимии, Институт ядерной физики, Институт электроники. - М., 1976.
   Т. 2. - 1976. - 401 с. : ил. - Библиогр. в конце статей.

   Вычисление характеристик переноса заряженных частиц в биологических материалов / Давидян А. П., Ерёмин А. В., Ерёмин В. В., Смоляр В. А. // Биомедицинская радиоэлектроника. - 2008. - № 4. - С. 37-44.

   Генерация пучков заряженных частиц в диодах со взрывоэмиссионным катодом : [монография] / Пушкарев А. И., Исакова Ю. И., Сазонов Р. В., Холодная Г. Е. - М. : Физматлит, 2013. - 237 с. : ил. - Библиогр.: с. 229-237. - ISBN 978-5-9221-1411-0.

Далидчик Ф. И., Ковалевский С. А., Балашов Е. М.
   Поляризационные эффекты в туннельной резонансной спектроскопии точечных дефектов и единичных наночастиц / Далидчик Ф. И., Ковалевский С. А., Балашов Е. М. // Российские нанотехнологии. - 2009. - Т. 4, № 7-8. - С. 87-90.

Дудников В. Г.
   Источники отрицательных ионов / Дудников В. Г. ; Новосибирский государственный университет. - 2-е изд., доп. - Новосибирск : Изд-во Новосиб. гос. ун-та, 2019. - 309 с. : ил. - Библиогр.: с. 279-306. - ISBN 978-5-4437-0848-5.

Дюков В. Г., Непийко С. А., Седов Н. Н.
   Электронная микроскопия локальных потенциалов / Дюков В. Г., Непийко С. А., Седов Н. Н. ; Академия наук Украинской ССР, Институт физики. - Киев : Наукова думка, 1991. - 198 с. : ил. - Библиогр.: с. 190-196. - ISBN 5-12-002339-8.

Егоров Н. В., Шешин Е. П.
   Автоэлектронная эмиссия. Принципы и приборы : [учебник-монография] / Егоров Н. В., Шешин Е. П. - Долгопрудный : Интеллект, 2011. - 703 с. : ил. - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-91559-027-3.

Зевайль А., Томас Дж.
   Трехмерная электронная микроскопия в реальном времени : [учеб. пособие] / Зевайль А., Томас Дж. ; пер. с англ. Сухов А. В. - Долгопрудный : Интеллект, 2013. - 327 с. : ил. - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-91559-102-7.